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1. 事件描述
2010年2月16日，在CPR1000核電站首臺機組嶺澳核二期3號首次進行機組熱態(tài)功能試驗（3HFT）期間，高壓缸進氣溫度測量元件（ 3GME581YT /591YT）與汽缸的連接部位發(fā)生較大面積蒸汽泄漏，現(xiàn)場立刻采取了加強緊固的方式臨時處理，保證熱態(tài)功能試驗的繼續(xù)進行。在熱態(tài)功能試驗結束之后，施工現(xiàn)場對泄漏的溫度測點進行拆卸檢查，發(fā)現(xiàn)高壓缸本體及高壓主汽門的大部分熱控測量孔密封面存在較嚴重的加工不平整、管座與測量套管不同心等問題，致使高溫壓蒸汽進入后產生較大面積蒸汽泄漏。
2. 原因分析
通過圖紙核對和外方專家的技術確認，我們了解到，CPR10
00核電站首臺機組的高壓缸屬于我國首次引進的核電百萬千瓦級半速汽輪機組（原型機為法國阿爾斯通半速機），汽輪機的進氣壓力約是6.8MP。高壓缸本體的熱控測量孔是圓錐形的孔，采用六面形墊片密封，六面形墊片的A /B密封面分別和錐形面和熱控測量接座密封面接觸，密封線較窄（約2毫米），六面形墊片的材質為Q235材質，較一般的銅墊片硬，不易變形，且對加工面配合要求較高。（圖1）
在針對高壓缸熱控測量孔的生產過程的加工處理上，工廠直接參考了外方的設計圖紙，但忽視了圖紙上對加工精度和密封面的較高配合的要求。導致發(fā)貨到現(xiàn)場的熱控測量接座、六面形墊片、錐形密封面三者之間的配合效果不佳 。
施工現(xiàn)場在安裝前進行了簡單檢查，發(fā)現(xiàn)部分熱控測量孔的錐形密封面在工廠內加工不平整、有劃痕及點坑，各密封面間的配合不佳。雖然聯(lián)系工廠進行確認，但未得到各方足夠的重視，而工廠提供的相關的安裝程序文件中也沒有對安裝前后檢查做具體的要求。
在泄漏事件發(fā)生后，現(xiàn)場各方對錐形密封面進行了藍油檢查，發(fā)現(xiàn)較多數(shù)量的接觸面存在斷續(xù)，未接觸、加工不平整、劃痕及點坑等缺陷（圖2），這是是產生蒸汽泄漏的主要原因。
3. 采取措施
針對上述的原因，經過現(xiàn)場各方討論，采取如下措施：
（1）采取緊急修復措施
生產廠家派出技術人員攜帶專用工具對現(xiàn)場嶺澳二期核電站3號機高壓缸及主汽閥門的熱控測量孔密封面進行精研磨加工，保證密封面的平整性和有效接觸。
（2）完善安裝程序中對熱控測量孔安裝和檢查具體要求如下：
1） 安裝前對應密封面進行目視檢查，并使用藍油對密封面的平整性和墊片接觸有效性進行核查。
2） 對目視和藍油檢查不合格的測量孔，使用專用工具進行研磨處理，研磨直至藍油檢查合格；
3） 安裝時使用力矩扳手將螺紋擰緊，采用高溫螺紋密封脂（牌號GRN50），擰緊力矩值460NM。
通過以上的措施，對嶺澳二期3號高壓缸及主氣門熱控測量孔的蒸汽泄漏問題進行了修復，修復之后，在嶺澳核電站3號機的汽輪機多次沖轉和商運中都沒有再次出現(xiàn)類似泄漏問題，說明這次泄漏處理方案是成功的。
4. 經驗反饋
CPR1000核電站首臺機組嶺澳二期核電站3號機作為國內首臺核電半速汽輪機組，在消化和吸收國外成熟技術中的過程中，第一次使用錐形密封面和六面形墊片密封的形式，對制造和安裝過程有較高的工藝要求，通過在制造和安裝過程中對熱控測量點漏氣問題的處理，我們得到如下經驗總結和反饋：
探究導ks5u.com體電阻與其影響因素的定量關系的實驗是人教版物理3-1中的探究實驗，教材實驗電路如圖1所示，圖中a、b、c ks5u.com、d四條不同的金屬導體.在長度、橫截面積、材料三個因素方面，b、c、d跟a相比分別只有一個因素不同物理論文，b與a ks5u.com長度不同；c與a橫截面積不同，d與a材料不同. 由于四段導體是串聯(lián)的，每段導體的電壓與它們的電阻成正比，因此用電壓表分別測量a、b、c、d兩端的電壓，由電壓之比就得到ks5u.com電阻之比.
該實驗與舊教材測定金屬的電阻率實驗相比，實驗的重點不是測量待測導線的具體電阻值，而是運用比值法和控制變量法的思想去探究電阻與其影響因素的定量關系，體現(xiàn)了新課程實驗重在培養(yǎng)學生科學思想和探究能力的特色.然而物理論文，不少老師發(fā)現(xiàn)教材電路圖是用一只電壓表分別測量a、b、c ks5u.com、d電壓的（圖中用虛線表示的），為何不用四只相同的電壓表同時測量電壓（如圖2）呢？是不是電路圖畫錯了呢？為此，下面從實驗的誤差角度來分析這一問題.
為便于分析，現(xiàn)將問題簡化為比較用一只電壓表分別測兩只電阻絲的（如圖3）電阻之比和用兩只電壓表測量兩個電阻絲（如圖4）電阻之比的誤差.
為簡化分析，先討論電源內阻r=0的理想化的情形.設電源電動勢為E，電阻絲a、b的電阻分別為Ra、Rb，圖3中電壓表的測量值分別為Ua、Ub，圖4中電壓表的測量值分別為、物理論文，電壓表內阻為RV.
電阻絲a與電壓表并聯(lián)時，電阻,ks5u.com
電阻絲b與電壓表并聯(lián)時，電阻,
圖3中 ，
整理得，即
圖3中 ，
整理得，即
所以，在不考慮電源內阻的情況下物理論文，用一只電壓表測得兩只電阻絲的電阻之比比用兩只電壓表測得兩只電阻絲的電阻之比的誤差小.
在實際實驗中，電源有內阻，還要接入滑動變阻器.假設滑動變阻器接入電路的阻值和電源內阻之和為R0，再來比較圖3、圖4兩種測量結果的誤差.
圖3中 ，
整理得
即
圖4中 ，
整理得，即
比較與的大小.因，無論為真、假分數(shù)物理論文，根據不等式的性質可知比更接近于1，所以用一只電壓表測得兩只電阻絲的電阻之比比用兩只電壓表測得兩只電阻絲的電阻之比的誤差小.
上述分析方法和結論同樣適用于四個電阻絲接入電路的情形，只是計算較為繁瑣而已.
可見，在探究導ks5u.com體電阻與其影響因素的定量關系的實驗中，用一只電壓表分別測量導體a、b、c、d的電壓得到的電阻之比比用四只相同的電壓表分別測量a、b、c、d兩端的電壓得到的電阻之比誤差小，所以教材電路中將電壓表的連線畫成虛線是科學的和正確的.
參考文獻
在工廠發(fā)供電系統(tǒng)中，電氣設備較多。電氣設備運行中發(fā)熱產生溫升，隨著長時間運行，設備老化、積灰造成發(fā)熱量增大，造成溫升異常，如果不加以檢測和控制，隨著電力負荷的增長，如果原有的電氣設備不加以檢測和維護，對設備危害會很大。電氣設備發(fā)生故障，故障點的電流及支路電流會增加，電氣設備接頭比同截面導線，出現(xiàn)超限負荷，后果是：接頭松動，長時間后接頭發(fā)熱，設備老化，最嚴重發(fā)生電纜爆炸或者接頭熔斷。
1.溫升產生的原因
電氣設備發(fā)熱時電流熱效應引起，按照i²r的公式產生熱量。公式說明，電氣設備熱量主要是兩因素組成，即電流、電阻。
下面對影響接觸電阻發(fā)熱的因素進行分析：
接觸電阻由兩部分組成，收縮電阻Rs、表面膜電阻Rb。收縮電阻：電流流經電接觸區(qū)域，由原來截面較大導體轉入截面較小接觸點，電流發(fā)生收縮，此現(xiàn)象呈現(xiàn)的電阻稱為收縮電阻。表面膜電阻是在電接觸面上，由于覆蓋一層導電性差的物質，產生膜電阻。
接觸電阻形式：點接觸、線接觸、面接觸。接觸形式與收縮電阻Rs的影響表現(xiàn)在接觸點數(shù)目。通常情況，面接觸點數(shù)最大Rs最?。稽c接觸最小，Rs最大；線接觸處于之間。
接觸形式與膜電阻Rb的關系主要是接觸點承受的壓力F。接觸壓力F對收縮電阻Rs值、膜電阻Rb值影響最大，F(xiàn)增加，接觸有效面積增大，接觸點數(shù)增加，使Rs減小。接觸不到位，觸頭失去彈性，接觸壓力F下降，接觸面積減少，電阻Rs增大，膜電阻Rb受F的作用減弱或不受其影響，使表面膜電阻Rb增大。
接觸表面光潔度對電阻有影響，主要表現(xiàn)為接觸點數(shù)不同。電阻接觸在長期工作中要受到腐蝕作用，電接觸長期允許溫度都很低，接觸面金屬基本不與周圍介質接觸，但介質中的氧從接觸點逐漸侵入，并金屬發(fā)生化學反映，形成氧化物，造成實際接觸面積降低，使Rj增加，接觸點溫度上升。論文格式。
電化學腐蝕：兩種金屬構成電接觸，會發(fā)生這種腐蝕。它使低價金屬溶解，造成低價金屬腐蝕。
電氣發(fā)熱使接觸面形成氧化層薄膜，增加接觸電阻。論文格式。氧化速度和觸頭溫度關系密切，發(fā)熱溫度高，超過臨界溫度，氧化膜形成過程會加速，這就決定了接觸面極限溫度。此外，當發(fā)熱溫度超過極限值，接觸部分的墊片會被退火，壓力降低，使接觸的電阻增加，最后導致連接狀態(tài)破壞。
2.絕緣等級
絕緣等級是指其所用絕緣材料的耐熱等級，分A、E、B、F、H級。允許溫升是指電動機的溫度與周圍環(huán)境溫度相比升高的限度。最高允許溫度分別是（℃）105、 120 、130 、155 、180。
運行中電氣設備，要求溫度不大于絕緣等級。超過絕緣等級規(guī)定時，需要進行處理。
3.電氣發(fā)熱檢查方法
3.1用試溫蠟片
把試溫蠟片粘貼在電氣接點觸頭，運行中觀察試溫蠟片顏色變化情況，有60℃（黃色）70℃（綠色）80℃（紅色），每達到一定的溫度，相應的色塊會變成黑色。
3.2使用紅外線測溫儀：
使用紅外線測溫儀可以直接對電氣觸頭、電纜接頭、電機外殼進行測溫。測量誤差小，使用方便。
4.使用紅外線測溫儀時應該注意的問題
（1）使用測溫儀應當注意測量距離，按照使用說明書，一般最佳測量距離為1米，距離越遠，誤差越大。
（2）使用測溫儀時應盡量避免紅外光線穿透玻璃。雖然在產品說明書中注明可以穿透玻璃測量，但是在實際使用中發(fā)現(xiàn)，穿透玻璃使測量結果誤差增大。所以應該盡量避免。
（3）在使用測溫儀過程中，應該遵循定時、定點原則并做適當?shù)挠涗?。定時原則就是在24小時的某一個固定時間檢測。定點原則是指在測量溫度時的測溫點應當固定，有條件的話，在檢修狀態(tài)應當做適當標記。論文格式。堅持定點定時原則并加以記錄才能夠及時發(fā)現(xiàn)異常發(fā)熱的觸點，并及時加以處理。
石英晶體生 本文由wWW. DyLw.NeT提供，第一 論 文 網專業(yè)寫作教育教學論文和畢業(yè)論文以及服務，歡迎光臨DyLW.neT產中，要進行石英晶體微調、石英晶體分選等多個重要的生產加工環(huán)節(jié)。在不同的生產加工環(huán)境中，用到的石英晶體測試環(huán)境是不一樣的。石英晶體微調環(huán)境要使用帶兩個金屬夾片的測試夾具，該測試夾具間存在著雜散電容，其必然會對精確測量石英晶體元件的參數(shù)造成影響。
目前，我國作為石英晶體生產元器件生產大國，雖然總體產量很高，但與發(fā)達國家相比，產品質量、技術水平和科研能力等存在較大的差距，特別是石英晶體電參數(shù)測試技術和設備的水平較低[2]。目前國內石英晶體電參數(shù)測試設備大多依賴進口，這些設備價格昂貴，嚴重限制了我國石英晶體制造行業(yè)的發(fā)展。目前國內研制的石英晶體測試儀器，對于測量夾具電容采用的是單點校準方法，每測量一個頻率的晶體元件都要進行一次附加相移補償，制約著測試系統(tǒng)的應用普遍性。因此，測量夾具電容對石英晶體頻率測量的影響與補償方法的研究，對于提高石英晶體串聯(lián)諧振頻率測量水平具有十分重要的意義。
1 基本測量原理
1.1 石英晶體的等效電路模型
石英晶體具有壓電效應，當給石英晶體加一交變電場時，石英晶體將產生機械振動，機械振動通過壓電效應與系統(tǒng)相耦合，其效果相當于在電路中串一個由電阻、電容和電感組成的回路，等效電路模型如圖1所示。
圖1中：C0為石英晶體兩極間的電容，稱為石英晶體的靜電容，值為幾個pF；C1為石英晶體的動電容，其范圍10-1～10-4 fF；L1稱為石英晶體的動電感，其范圍10-5～10-3 H；R1表示晶體在振動時的損耗，稱為石英晶體的串聯(lián)諧振電阻，其范圍在101～103 Ω之間。
1.2 π網絡法的測量原理
石英晶體具有壓電效應，當其施加于交變電場中時，它就可以等效于由電阻、電容和電感組成的LC回路。該回路有一固有串聯(lián)諧振頻率，當電路諧振時，石英晶體對外呈純電阻狀態(tài)，且阻抗最小。本研究采用IEC推薦的π網絡[3]，如圖2所示，π網絡由對稱的雙π型回路組成，R1，R2和R3構成輸入衰減器，R4，R5和R6構成輸出衰減器，它們的作用是使π網絡的阻抗與測量儀表的阻抗相匹配，衰減來自測量系統(tǒng)的反射信號。Y1為被測石英晶體，Va為π網絡輸入矢量電壓信號，Vb為輸出矢量電壓信號。
在測量時，通過不斷改變Va的頻率，并檢測Vb的幅值以及Va和Vb的相位差，當Vb幅值達到最大或者相位差為零（理論上，兩者對應的頻率相等）時，π網絡處于諧振狀態(tài)，此時Vb信號的頻率就為石英晶體的串聯(lián)諧振頻率，這就是π網絡法的測量原理。
1.3 串聯(lián)諧振電阻的測量原理
在圖2所示理想狀態(tài)下的π網絡模型中，Va，Vb分別為π網絡輸入端和輸出端電壓，利用節(jié)點電壓法可得石英晶體等效阻抗Ze為：
[Ze=2KVaVb-1?Zs]
式中：Zs為π網絡等效阻抗，當π網絡為純電阻網絡時其值約為25 Ω，K為常數(shù)，是在初始校準，把25 Ω基準電阻器插入π網絡時，輸出通道與輸入通道電壓讀數(shù)的比值。石英晶體處于串聯(lián)諧振狀態(tài)時，Zs即為石英晶體串聯(lián)諧振電阻[4]。故用π型網絡零相位法測量石英晶體元件諧振電阻的基本步驟如下：
（1） 把25 Ω基準電阻器插入π網絡，分別記下A道和B道的電壓讀數(shù)Va0和Vb0，計算：[K0=Vb0Va0]；
（2） 用被測晶體元件替換基準電阻器插入π網絡，讀出相位差為零時的頻率值，并分別記下A道和B道電壓讀數(shù)Va和Vb；
（3） 用式（1）計算諧振電阻：
[R1=2K0VaVb-1·t×25 Ω] （1）
2 測試夾具電容對串聯(lián)諧振頻率測量的影響及
補償
2.1 誤差分析
理論上，石英晶體處在串聯(lián)諧振狀態(tài)時，它對外呈純電阻特性，阻抗最小，輸入信號Va經過π網絡時壓降就最小，也即Vb達到最大。 在實際測量中，由于測量夾具電容、引線對地電容以及引線電感的存在，π網絡并不是純電阻網絡，它會產生附加的相移，根據π網絡零相位法的測量原理，當待測石英晶體處于串聯(lián)諧振狀態(tài)時，π網絡兩端信號的相位差為零。但由于π網絡本身附加相移的存在，此時石英晶體沒有處于串聯(lián)諧振狀態(tài)。根據課題前期研究成果可知π網絡實際等效電參數(shù)模型如圖3所示。
在石英晶體微調測試環(huán)境下，使用的測量夾具是兩塊相對的金屬片，這時測試夾具間引入的電容會較大，會對測試結果有很大影響。而IEC標準中所提出的測量方法中規(guī)定接觸片之間的雜散電容應小于0.05 pF，但是在實際成品測試環(huán)境下，金屬片之間的電容達到了4.65 pF。因此，在這種測試條件下，需要考慮這種并電容的影響。在假設其他影響因素不存在的情況下，單獨分析研究測量夾具電容CX的影響。
通過不斷改變輸入信號的頻率，測試輸入信號和輸出信號的相位差是否為零，來判斷待測石英晶體是否處于諧振狀態(tài)，當石英晶體兩端相位差為零時表示石英晶體已處于諧振狀態(tài)，即：
[tanφ= 2L1ω2C0′C1+L1ω2C21-R21ω2C0′C21-ω4C0′C21L21-C0′-C1R1ωC21=0] （2）
由式（2）得：
式中：[C0′=C0+CX]。
在實際測量中，由于引入金屬片之間的電容CX，也就是使并電容C0的值變大。顯然在這種測試條件下，用π網絡零相位法測得的串聯(lián)諧振頻率的值與理想電路模型下的理論值有誤差。
2.2 硬件補償
根據石英晶體串聯(lián)諧振頻率測量原理，在金屬測量夾片引入電容，使并電容C0變大，而其他參數(shù)不變的情況下，需通過適應改變串聯(lián)諧振電阻R1的值對串聯(lián)諧振頻率的測量進行補償。
如圖4所示，采用并聯(lián)電阻的方法，對CX進行補償。并聯(lián)電阻RP之后，會使輸出電壓Vb變大。根據石英晶體諧振電阻R1的測量方法，計算出的諧振電阻R1值會變小。通過這種對CX的補償，可以使之能夠在串聯(lián)支路的頻率的零相位處直接測量串 聯(lián)諧振頻率。石英晶體元件理想電路模型兩端間的阻抗：
[ZAB=1jωC0R1+jωL1-1ωC1R1+jωL1-1ωC1-1ωC0=Re+jXe] （4）
由式（4）可得：
[tanφ=2L1ω2C0C1+L1ω2C21-R21ω2C0C21-ω4C0C21L21-C0-C1R1ωC21] （5）
并聯(lián)電阻RP對CX進行補償后，在串聯(lián)諧振頻率附近，整個被測電路（晶體元件和調諧到晶體頻率的并聯(lián)補償電路）的相位由下式給出：串聯(lián)諧振頻率是在規(guī)定條件下晶體元件本身的電納等于零的一對頻率中較低的一個。根據π網絡零相位法測量串聯(lián)諧振頻率的測量原理可知，當理想電路模型的相位差為零時輸入的頻率就是需要測量的串聯(lián)諧振頻率。比較兩式的分子項可知，要想使串聯(lián)諧振頻率得到補償，即[ω=ωP]，需相應調整諧振電阻[R1′]的值，來抵消引入電容CX的影響，使之能夠在串聯(lián)之路的頻率的零相位處直接測量。
2.3 測量數(shù)據建模
要消除π網絡測量夾具間引入電容CX帶來的影響，根據π網絡零相位法測量石英晶體串聯(lián)諧振頻率的測量原理公式可知，需在諧振電阻的數(shù)值上進行相應的改變來補償靜電容對串聯(lián)諧振頻率測量值的影響。實驗過程中，采用Multisim電路仿真軟件對電路進行仿真分析，輸入端使用1 V輸入電壓，在電路輸出端放置一個“測量探針”，運用“AC Analysis”法進行仿真分析，即可得到輸出電壓值，從而計算出諧振電阻的值。以51.2 MHz石英晶體為例具體說明。250B測量系統(tǒng)對石英晶體測量結果為：Fr=51.30 825 083 MHz，L1=5.66 mH，C0=4.4 pF，C1=1.7 fF。
（1） 把25 Ω基準電阻器插入π網絡，輸入電壓Va0使用1 V，記下輸出電壓度數(shù)：Vb0=0.033 V，計算K0：K0=Vb0/Va0=0.033；
（2） 將晶體元件插入π網絡中，讀出相位差為零時輸出電壓值Vb：Vb=0.032 V，此時讀出串聯(lián)諧振頻率：Fr=51 308 240.82 Hz； （3） 計算理想狀態(tài)諧振電阻：
R1=[2K0（Va/Vb）-1]×25=25.628 Ω；
（4） 引入電容CX為4.65 pF，電路中并聯(lián)可變電阻進行補償，改變補償電阻的值，使測量出相位差為零時的串聯(lián)諧振頻率值為51 308 240.82 Hz，分別記錄此時的補償電阻RP和輸出電壓Vb：RP=70 Ω，Vb=0.038 V；
（5） 計算補償電路中諧振電阻的值：
[R1′=2K0VaVb-1×25=18.716 Ω]
RP即為所需的補償電阻。為了提高測量精度，可對不同頻段的晶體分別求得補償電阻，然后取平均值作為最終補償電阻。
3 實驗結果
用帶有補償電阻的測試π頭對6只不同頻段的石英晶體的串聯(lián)諧振頻率進行測試，并與美國S&A公司的250B型π網絡石英晶體測試儀的測試結果進行比對，測試結果如表1所示。
表1 比對測量實驗結果
從實驗結果可以看出，采用硬件補償后石英晶體串聯(lián)諧振頻率的測量精度可以達到±2×10-6，補償效果較好。
4 結 論
由以上分析可知，π網絡中測量夾具間引入的電容對石英晶體串聯(lián)諧振頻率的測量是有影響的，如不對其進行適當?shù)难a償，測量結果會有很大的誤差，尤其是對高頻率的石英晶體的測量。采用以上補償方法可以很好的補償夾具間電容對測量結果的影響。
參考文獻
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一：自然電位的成因
在鉆井剖面上煤巖層形成的自然電位場，是由煤巖層和井液間的電化學作用產生的。按其成因可分為兩大類：一是由電子導電性礦層和井液形成的氧化還原電位。免費論文參考網。這種氧化還原電位多發(fā)生在高階質煤層上。另一類是由井液和孔隙性煤巖層形成的離子性的擴散吸附電位、過濾電位。
1：氧化還原電位形成機理
氧化還原電位是由礦層和井液的氧化還原反應形成的。當?shù)V層在井液中處于氧化環(huán)境中，礦層中的物質成份由于被氧化而失去電子帶正電，井液物質成分由于獲得電子帶負電。這樣在礦層和井液的界面處當氧化環(huán)境達到平衡時就形成電位差。這時我們就可以測量到該礦層的自然電位的負異常。
當?shù)V層在井液中處于還原環(huán)境時，礦層中的物質成份由于被還原而得到電子帶負電，井液物質成份由于失去電子帶正電，這樣也在礦層和井液的界面處當還原環(huán)境達到平衡時就形成電位差。這時就可以測量到該礦層的自然電位的正異常。
2：擴散吸附電位形成機理
擴散吸附電位一般形成于孔隙性地層和含水層中。是由于井液離子向地層滲透過程中，在井液和地層的界面處的離子濃度差形成的，與煤巖層的孔隙度大小有關。也與井液的礦化度有關。
一般負離子的移動速度大于正離子的移動速度。當?shù)貙铀牡V化度Cw大于井液的礦化度Cf時，地層水中的負離子向井液中擴散，擴散達到平衡時，地層水中就有較多的正離子而帶正電，井液中就有較多的負離子而帶負電。在井液和地層之間就形成電位差。這種電動勢主要取決于兩種溶液的活度（礦化度）比值。并與溶液的溫度和離子成份有關。該電動勢的大小可表示如下：
E=K*Log (Cw/Cf)
式中 k 為擴散電動系數(shù)，單位 毫伏，Cw 為地層水的電化學活度， Cf 為井液泥漿的電化學活度。
二：自然電位測井的干擾因素及解決辦法
目前，自然電位測井大多采用井下M電極，地面N電極的測量方式。免費論文參考網。而且測井時大多和電阻率測井共用M電極。所以自然電位測井的影響因素較多。
1：電極極化電位的影響及解決辦法
測井時，測量電極M和地面電極N同時存在著和泥漿井液間的電極極化電位，這種電極極化電位主要取決于電極采用金屬材料的電化學活性，活潑金屬的電極電位大且不穩(wěn)定，不活潑金屬的電極電位小且穩(wěn)定。所以測井電極一般采用不活潑的金屬材料制作。電極電位的存在使得自然電位測井時曲線產生漂移現(xiàn)象。同時電極表面經長期使用產生凸凹銹蝕，使得和井液接觸時產生較大的電極極化電位，同樣使自然電位曲線產生漂移。
解決辦法一般采用不活潑的金屬鉛做視電阻率測井和自然電位測井的供電及測量主電極。而且在測井前使 M , N 電極表面光滑、干凈?？梢詼p少這類干擾因素的影響。
2：電阻率測井漏電干擾及解決辦法
目前煤田測井中，普遍采用視電阻率和自然電位共用測量電極M同時測量的方式，有時產生測得的自然電位曲線和視電阻率曲線倒形相似現(xiàn)象。在實際工作中經多方面分析研究認為：視電阻率測量地面供電B電極和電阻率與自然電位測量共用地面N電極之間距離有關，同時也與井液泥漿的礦化度有關。供電B電極一般放在井口，N電極一般在泥漿池。二者距離短時有時就會產生這種現(xiàn)象。分析其原因是B電極和N電極之間的接地電阻大小有關。
在實際測井工作中經多次驗證。將視電阻率測井和自然電位測井時共用的地面N電極改用電纜鎧皮作N電極可以消除這一現(xiàn)象?；驅⒌孛鍮、N電極距離加長至消除這一現(xiàn)象。免費論文參考網。
三：總結及建議
自然電位測井的影響因素較多，如工業(yè)雜散電流的影響、絞車滑環(huán)接觸電阻的影響、儀器面板插座接觸不良的影響等。希望我們今后在實際測井工作中及時發(fā)現(xiàn)問題及時解決。另外希望儀器制造廠家最好將測量電路做在探管中，以數(shù)字脈沖碼的方式向地面儀器傳送測量信號，這樣可以減少很多干擾因素的影響。
參看文獻：
活動方案的具體目標：
隨著工業(yè)和農業(yè)的現(xiàn)代化，給我們生活的環(huán)境造成了一定的影響，尤其是對水資源的影響較大，在工業(yè)區(qū)附近的城鎮(zhèn)和農村，由于一些工廠的污水排放，造成對水源的嚴重污染，尤其是重金屬鉛、汞離子的濃度嚴重超標，對人們的身體造成危害，所以本次科技教育活動的目標就是：要求學生利用自己所學的物理、化學及地理知識，對校園周邊的河流及水井等水源進行抽樣調查研究，通過抽樣測定含鉛、汞離子的水源的電阻率，從而判定這種離子在水中的濃度。
本次活動方案所要抽樣的水源是：
湖南省道縣境內的瀟水河、濂溪河、春秋井。
高三理科實驗班45個同學分成三大組、每組15人，要求每組同學對自己的抽樣對象取樣水，通過測定水源電阻率的辦法來判定水源中鉛汞離子的濃度。
本次活動方案的具體內容：
1 要求同學們開動腦筋，在探究式學習中設計測量大電阻率的原理方法，在實驗室配制不同濃度(鉛汞離子濃度)的水溶液進行電阻率測量計算，并列表繪圖做成“標準參數(shù)”，然后再對樣水進行測量對比分析并標度，從而可測出樣水中的鉛、汞離子濃度來?；顒訒r間：只能利用課外活動和中午休息時間進行。
2 本活動方案的難點：
①怎樣利用恒定電路測量含鉛、汞的水溶液的電阻率；
②怎樣在實驗室做好一定鉛、汞離子濃度的“標準參數(shù)表”。
3 本方案的重點是：設計測量水源樣水的電阻率的電路原理圖：
4 本活動分為四個階段：
第一階段：(3課時)查閱資料，分組學習討論，確定測量含鉛、汞離子水溶液的電阻率的電路。
第二階段：(3課時)根據自己設計的電路圖研究實際測量的可行性，由電阻定律R=PL/S得到：P=RS/L，利用注射器作盛水容器，可測出該樣水電阻的橫截面積s和長度L來，并不斷改進測量方法，直到能較準確測量出電阻率很大的純凈水的電阻率為止。
第三階段：(2課時)根據實驗的可行性來設計電路，對不同濃度的鉛、汞離子水溶液進行電阻率測量并繪制“標準參數(shù)表”。
第四階段：(1課時)對水源的樣品進行測量其電阻率，并依照“標準參數(shù)表”讀出其離子濃度來。
5 活動過程中可能出現(xiàn)的問題有：
①設計測水源電阻率的電路實際誤差較大。
②不會抽取水源樣品，或者是水源的樣品中還含有其他鹽類而影響“鉛、汞”離子的電阻率測量。
③不會制連續(xù)性的“標準參數(shù)表”。
6 解決以上問題的預案：
①引導同學們運用已學的恒定電流知識設計3種以上電路原理圖，然后從誤差方面分析，擇優(yōu)確定一種。
②在抽水樣時，定好體積，用注射器抽取較為適宜，在設計離子濃度與電阻率關系的“標準參數(shù)表”時，要求同學輪流測量、多次測量取平均值，以便把實驗誤差降到最低限度。
③如果在樣水中出現(xiàn)較多的鎂、鈣等離子，必須設計化學實驗方案除去這些“負因素影響”離子。
7 活動結果及呈現(xiàn)方式：
要求同學們在反復測量中所得到的數(shù)據具有穩(wěn)定性，與“標準參數(shù)”誤差不超過5％，而且寫好論文和報告，把整個活動過程和電路設計原理記錄下來，以便活動終結考評。
活動評價標準：
1 查看各組所采用的電路原理圖是否科學而且誤差不超過5％，否則視為活動結果不合格。
2 所設制的“離子濃度一電阻率”標準參數(shù)表是否準確且有連續(xù)性。并評定打分。
3 所著論文報告是否詳細如實，根據情況評定優(yōu)良。
本次活動對學生的教育作用：
讓學生自己查閱資料，分組討論，設計出以前從未想過、但有效可行的電路來，使他們在探究式學習中培養(yǎng)科學素養(yǎng)，從科學思想、科學知識、科學方法和科學精神等方面全面提高自己的能力和素質，而且在創(chuàng)新設計中加強了動手能力，使之從小養(yǎng)成保護環(huán)境、為人類造福的遠大理想。
本活動方案的有利條件是：
物理學是一門實驗科學。物理實驗為理性認識提供了發(fā)現(xiàn)物理規(guī)律所需的感性材料、檢驗物理理論和假說的正確依據、開拓了物理學應用的新領域。在新課標高考中實驗考查占有的比例逐年增加，與傳統(tǒng)考查相比有下列趨勢：①從機械記憶實驗轉向分析理解實驗、理解物理實驗原理轉變。②從既定的學生分組實驗轉向變化的創(chuàng)新實驗。既定的學生分組實驗已經從高考試題中逐漸退出，取而代之的是學生尚未接觸過的實驗，而與學生做過的實驗有著聯(lián)系的實用性、創(chuàng)新性實驗。從考查內容上看呈現(xiàn)如下特點：①實驗的基本原理和思想方法是考查的核心內容。②實驗數(shù)據處理是實驗的重要環(huán)節(jié)，也是高考的重要方面。③基本儀器的使用是高考的熱點。④實驗的實際操作是考查的重點。⑤設計性實驗是考查的難點。面對這些方面，學生感到慌亂，沒有行之有效的復習方法cssci期刊目錄。結合實際我采取了利用歌訣復習物理實驗，收到了較好的效果。
在復習《驗證牛頓第二定律》時，利用了這樣的歌訣：控制變量法，驗證牛二律；實驗第一步，平衡摩擦力；合力等于盤碼重，必須滿足關系式（m?M）; 驗證aM成反比，注意選好坐標系。這一歌訣的第一句“控制變量法”，說明了本實驗的實驗思想方法，即“控制變量法”；第二句“驗證牛二律”，說明了本實驗的實驗目的，即“驗證牛頓第二定律”；第三四兩句“實驗第一步，平衡摩擦力”，強調了本實驗的注意事項之一，即消除摩擦力對實驗結果的影響；第五六兩句“合力等于盤碼重，必須滿足關系式（m?M）”，說明本實驗中小盤及砝碼的總重力視為小車受到的拉力，必須滿足關系式（m?M）；第七八兩句“驗證aM成反比，注意選好坐標系”，說明本實驗中在處理數(shù)據時，aM圖像是曲線，尋找關系不夠明顯，為了解決這一問題，縱軸選a，橫軸選，這樣就可化曲為直，很直觀地發(fā)現(xiàn)a和M的反比關系。利用了這一歌訣，不僅本實驗的實驗目的思想方法、注意事項、數(shù)據處理技巧等都進行了復習，而且提高了學生學習興趣，從而使學生在輕松的情況下掌握了本實驗的知識，提高了學習效率。
在復習《測定金屬的電阻率》時，利用了這樣的歌訣：兩個定律把ρ測，測U測I測直徑；測D（直徑）要用測微器，讀數(shù)規(guī)則要注意；L測量莫松動初中物理論文，為減誤差A外接；通過電流要適宜，變阻器使用記心中。第一句“兩個定律把ρ測”，兩個定律說明了本實驗的實驗原理，即電阻定律和歐姆定律，把“ρ測”說明了本實驗的目的，即測定金屬的電阻率；第二句“測U測I測直徑”，說明了本實驗需要測量的物理量，即導體兩端的電壓、通過導體的電流以及導體的直徑；第三四兩句“測D（直徑）要用測微器，讀數(shù)規(guī)則莫忘記”，強調了本實驗應用的一個重要儀器―螺旋測微器以及螺旋測微器的讀數(shù)規(guī)則；第五句“L測量莫松動” 強調測量長度時一要注意是接入電路中的有效長度，二要注意測量時導體不能松動；第六句“為減誤差A外接”，伏安法測電阻，測量電路中電流表有外接法和內接法，本實驗中為了減小誤差測量電路中的電流表要用外接法；第七句“通過電流要適宜”，在用伏安法測量電阻時，通過待測導線的電流不宜過大，通電時間不宜過長，以免金屬導線的溫度明顯升高，造成其電阻率在實驗過程中明顯增大；第八句“變阻器使用記心中”，變阻器接入電路中有分壓式和限流式，在本實驗中，由于待測導線的電阻不大，變阻器接入電路時用限流式。利用了這一歌訣，使學生快速掌握實驗原理、思想、注意事項，提高了學習效率。
除了上述實驗外，其它一些實驗也可以采取這一方法復習。如《驗證力的平行四邊形定則》歌訣：白紙釘在木板處，兩秤同拉有角度，讀數(shù)畫線選標度，再用一秤拉同處，作出力的矢量圖。如《研究勻變速直線運動》歌訣：測a要用計時器（打點計時器），速度等于位移時間比，使用刻度尺量位移，打點周期0.02秒，交流電壓4—6伏，利用推論（?s=aT2）求加速度。
2科技競賽的組織實施
2．1科技競賽項目及要求
首先關于舉辦大學生物理實驗科技競賽的通知。競賽分為初賽、實驗操作和答辯三個環(huán)節(jié)進行，報名與參賽均以組為單位，每組兩人。初賽以筆試形式考查報名選手的基本知識和基本實驗技能。實驗操作考察學生的動手能力和靈活運用所學知識設計實驗的能力，參照我校現(xiàn)有儀器和條件，提出競賽項目及要求：（1）學生在校期間完成的物理思想清晰，物理知識點明確的實驗制作或測試方法和手段。（2）學生在校期間完成的物理思想清晰、與實驗相關的科研論文和教學論文。教學論文包括物理實驗內容和方法的改進、現(xiàn)代測量技術在物理實驗中的應用以及實驗數(shù)據處理優(yōu)化等。（3）對物理實驗現(xiàn)有儀器進行改進，使操作更加便捷、測量更加精確；對物理實驗現(xiàn)有儀器進行重新組合，開發(fā)新的實驗項目，完成新的實驗功能；基于物理課現(xiàn)有實驗項目，提出新的實驗方法。實驗操作中要求兩名選手團結協(xié)作，按照自己的設計方案在規(guī)定時間內完成儀器調試、數(shù)據測量、提交報告。
2．2評判標準
由任課教師對學生提交的論文進行評定，要求論文的物理思想清晰，物理知識點準確，論文結構合理，語言描述流暢，符合科技論文的基本要求。
2．3評獎辦法
由任課老師在每自然班篩選出三組同學進入最終的競賽，評獎小組由所有任課教師和物理實驗老師共同組成，最終采用答辯方式確定前三等獎，并頒發(fā)獲獎證書及獎金。其成績可按一定比例計入大學物理實驗課程的總成績。很明顯，這種充分體現(xiàn)學生實踐能力的競賽項目及評獎活動，會充分激發(fā)教師和學生做好物理實驗的積極性和“教好”與“學好”的熱情，可有效地將老師和學生結合成統(tǒng)一的整體。
2．4科技競賽項目實例
競賽項目：利用萬用表檢測較為復雜的集成電路故障所需儀器：萬用表；集成電路操作過程分析：首先要根據故障現(xiàn)象，判斷出故障的大體部位，然后通過測量，把故障的可能部位逐步縮小，最后找到故障所在。集成電路中總有一個接地腳與印制電路板上的“地”線是接通的，由于集成電路內部都采用直接耦合，因此，集成塊的其他引腳與接地腳之間都存在著確定的直流電阻?？赏ㄟ^用萬用表測量各引腳的內部等效直流電阻來判斷其好壞，若各引腳的內部等效電阻與標準值相符，說明這塊集成塊是好的；反之若與標準值相差過大，說明集成塊內部損壞。當然，由于集成塊內部有大量的三極管、二極管等非線性元件，在測量中單測得一個阻值還不能判斷其好壞，必須互換表筆再測量一次，獲得正、反向兩個阻值。
只有當內部直流等效電阻正、反向阻值都符合標準時，才能斷定該集成塊完好。也可采用在路測量。先測量其引腳電壓，如果電壓異常，可斷開引腳連線測接線端電壓，以判斷電壓變化是由元件引起，還是集成塊內部引起。在路檢測集成電路內部直流等效電阻時可以不必把集成塊從電路上拆下來，只需將電壓或在路電阻異常的腳與電路斷開，同時將接地腳也與電路板斷開，其他腳維持原狀，測量出測試腳與接地腳之間的內部直流等效電阻的正、反向陽值便可判斷其好壞。效果與不足：學生通過競賽對萬用表的使用方法和注意事項有了更加深入的理解，通過對復雜的集成電路故障的分析檢測，對各種儀器設備的電路故障分析檢測能力有了明顯的提升，懂得了學以致用的樂趣，對其他的物理實驗項目也有了濃厚的興趣。不足之處是每個自然班只有三組同學參加競賽，競賽的影響面不夠寬廣，今后要進一步擴大參賽同學的人數(shù)。
1 引 言
鈣鈦礦結構錳氧化物由于其存在龐磁電阻（colossalmagnetoresistance, CMR）效應，而CMR效應在磁傳感、磁存儲、磁制冷等方面有著誘人的應用前景，因而鈣鈦礦錳氧化物Ln1－xAxMnO3( Ln表示稀土元素，A表示堿土或堿金屬)以及鈣鈦礦錳氧化物與絕緣體氧化物（或金屬氧化物、金屬材料等）復合體被廣泛而深入地研究[1-5] 。
對于含稀土類鈣鈦礦錳氧化物Re1-yAyMnO3（Re為三價稀土離子，A為二價堿土金屬離子），早期研究[6-9]表明：TC和CMR在y=1/3，即Mn3+/Mn4+=2時最優(yōu)。至今，A位摻雜不同的堿土金屬元素的Re1-yAyMnO3材料得到了廣泛的研究。隨著研究的推進，CMR效應在Re1-yALyMnO3（AL為一價堿土金屬元素）中也被發(fā)現(xiàn)[10,11]，但是在A位同時摻雜一價和二價元素的研究很少[12–13]。文獻[12–13]中是用Na+分別替代Sr2+或Ca2+A位離子半徑，這樣造成Mn3+/Mn4+比值變化，而在A位同時摻雜一價和二價元素又使Mn3+/Mn4+比值不變的樣品鮮見報到[14]。
實驗中選用居里溫度較高的La4/5Sr1/5MnO3作為母體，用一價的Ag+和K+摻雜到A位，保持Mn3+/Mn4+=4/1,化學式為La8/9Sr1/45Ag4/45MnO3和La8/9Sr1/45K4/45MnO3。用固相反應法制備出樣品，控制Mn3+/Mn4+對磁電阻的影響，研究A位離子半徑及A位離子的無序度對電輸運性質及磁電阻的影響。
2 實 驗
1.1 樣品制備
采用固相反應法制備La4/5Sr1/5MnO3，La8/9Sr1/45Ag4/45MnO3和La8/9Sr1/45K4/45MnO3系列樣品。將高純度的La2O3在600 ℃脫水6 h（因為La2O3極易吸潮），與高純度SrCO3，Ag2O，KCO3,MnO2化學試劑按名義組分進行配料，充分混合并研磨后，在800 ℃預燒36 h，自然冷卻后，取出樣品仔細研磨，在900 ℃鍛燒24 h，以獲得良好的結晶. 在28 MPa壓力下將樣品壓成直徑為13 mm，厚度約為1 mm的圓片，在1100 ℃燒結12 h，最后切割成長條狀樣品.
1.2 表征
用DX-2600型X射線衍射儀(X-ray diffraction，XRD)檢測樣品的微結構，采用粉末樣品A位離子半徑，Cu靶Kα射線(l=0.1542 nm)論文提綱格式。用標準的四引線法測量零場和磁場（B=0.0，0.8 T）下的電阻率。外加磁場與電流方向垂直，測量所用的電流根據被測樣品阻值大小，保持在1～10 mA的某一定值，以滿足所需的靈敏度。
3 結果與討論
2.1 XRD分析
3個樣品的X射線衍射(XRD)譜如圖1所示. 由圖1可以看出，3個樣品均具有菱面鈣鈦礦結構，沒有任何雜峰出現(xiàn)，表明K+和Ag+進入了A位，已經形成完好的鈣鈦礦結構.
圖1 3個樣品的XRD圖譜
圖2為3個樣品的零場(B=0.0T)和加場(B=0.8T)的電阻率-溫度（ρ-T）曲線。
圖2 3個樣品的ρ-T曲線
由圖中可以看出：①3個樣品均表現(xiàn)為絕緣體-金屬導電行為，伴隨著絕緣體—金屬轉變（轉變溫度TP）阻溫曲線上表現(xiàn)出電阻率極大值現(xiàn)象。②零場下，純La4/5Sr1/5MnO3的ρ-T曲線在高溫區(qū)出現(xiàn)一個寬泛的的峰，摻雜樣品的ρ-T曲線出現(xiàn)雙峰現(xiàn)象，高溫峰是本征峰，對應的溫度記作T P1,較低溫出現(xiàn)“肩峰”是非本征峰，對應的溫度記作T P2。③復合樣品的峰值電阻率ρTP比純的La4/5Sr1/5MnO3的ρTP增大將近1個數(shù)量，T P1、T P2及峰值電阻率ρTP見表1。④當外加磁場時，電阻率在整個溫區(qū)降低，絕緣體—金屬相變在更高溫度下發(fā)生。
表1 3個樣品零場下的TP1和TP2峰值電阻率ρTP
sampie
La4/5Sr1/5MnO3
La8/9Sr1/45Ag4/45MnO3
La8/9Sr1/45K4/45MnO3
TP1/K
TP2/K
305
285
250
273
237
ρmax/Ω.m
兆歐表俗稱搖表，是電工常用的一種測量儀表。兆歐表主要用來檢查電氣設備、電氣線路對地及相間的絕緣電阻，以保證這些電氣設備、線路工作在正常狀態(tài)，避免發(fā)生電氣設備損壞及人身觸電傷亡等事故。本文根據電工實習課絕緣電阻測量方法的教學大綱要求，詳細分析兆歐表的選擇方法及使用操作步驟。
一、兆歐表的選擇
根據被測對象的額定工作電壓來選擇相對應的兆歐表。兆歐表按其輸出電壓分類，常用的規(guī)格有250V、500V、1000V、2500V、5000V等多種。當被測對象工作電壓較低時，可選擇250V兆歐表。我國交流供電大多為三相380V（單相220V），因此一般選用500V兆歐表，這是廣大電工及電氣設備維修人員必備的測量儀表。而1000V、2500V、5000V主要用于工作電壓較高的電氣線路上，供專業(yè)電氣測試人員使用。
電阻量程范圍的選擇。搖表的表盤刻度線上有兩個小黑點，小黑點之間的區(qū)域為準確測量區(qū)域。所以在選表時應使被測設備的絕緣電阻值在準確測量區(qū)域內。
有些兆歐表的起始讀數(shù)不為零而為1MΩ或2MΩ。如使用該類兆歐表測量在潮濕環(huán)境下的電氣設備、線路就有可能造成誤讀為零兆歐的誤判。因此一般電工和維修人員在選擇兆歐表時，都選擇測量范圍為0～200MΩ或0～500MΩ的兆歐表。
國產兆歐表型號、主要參數(shù)及適用范圍如附表所示。
型號
額定電壓
測量范圍
準確度等級
ZC251
100V
0～100MΩ
1.0
ZC252
250V
0～250MΩ
1.0
ZC253
500V
0～500MΩ
1.0
ZC254
1000V
0～1000MΩ
1.0
ZC263
500V
0～200MΩ
1.0(0～600V交流)
ZC283
500V
0～200MΩ
1.0
DY30
人民教育出版社出版的普通高中課程標準實驗教科書《物理》選修3-1《教師教學用書》（2010年5月第3版）(以下簡稱《教參》)，在其第60面實驗參考資料一文中提供了兩種測電容的方法，方法一為“利用電容器放電測電容”；方法二為“用傳感器做定量實驗學習電容的概念”。以上兩種方法的原理均為利用給電容器充電后通過高阻漏電，測量漏電電流與時間的關系，通過曲線面積計算法得到電量，計算電容值。
但以上兩種方法在實際操作中均有不足，現(xiàn)分析如下：
方法一的難點在于記錄放電時間的同時要記錄放電電流物理論文，雖然課本上提供了“節(jié)拍器計時法”和先描點后記錄等操作技巧（具體操作步驟參見《教參》），但實驗操作技巧要求高，學生在實際操作中，實測數(shù)據偏差大。且方法一所測電流從幾微安到數(shù)百微安，測量范圍大，對電表要求較高。對《教參》中生成的圖像計算后發(fā)現(xiàn)，該實驗使用的電容值達到1400μF，在實際中不易獲得。
方法二利用朗威數(shù)字化實驗室器材，利用電流傳感器測定電流強度，其優(yōu)點是通過數(shù)據采集器與計算機連接，迅速測定電流的同時在屏幕上顯示出電流I隨時間t變化的圖像，該實驗現(xiàn)象清晰、直觀，實驗效果很好龍源期刊。但由于使用R=100Ω的電阻放電，整個放電過程在0.7s內就基本結束，學生過程性體驗較差物理論文，同時目前配備一間數(shù)字化實驗室費用較為昂貴，部分學校暫時無法配備，在一定程度上限制了此方法的推廣和使用。
筆者在日常教學中使用價格僅數(shù)百元的數(shù)字萬用表，較好的解決了以上問題。其操作步驟如下：
首先需要準備一塊具有與 PC 機聯(lián)機功能的數(shù)字萬用表，筆者使用的數(shù)字萬用表為“VICTOR 98A”。通過該表精確度高（分辨率0.1μA，精確度0.2%+4）【1】可實現(xiàn)實時測量和保存測量數(shù)據，極大的增強了準確性和方便性。同時利用該表配備的聯(lián)機軟件，通過Miniusb接口與計算機的USB接口相連，可以直觀的將測量數(shù)據在大屏幕上顯示，方便教學中使用。
利用該數(shù)字萬用表，可以通過以下兩種方式完成數(shù)據記錄。
一、不使用計算機的情況下，使用該表“間隔存儲模式”，手動選擇間隔存儲時間（如1秒），待實驗完畢后，將記錄數(shù)據讀出并描點作圖。此法與《教參》中方法一相同物理論文，但與使用指針式萬用表讀數(shù)相比，簡化了實驗操作的同時，提高了測量的準確性。
二、數(shù)字萬用表與計算機連接使用，借助該表配備的聯(lián)機軟件，計算機連接數(shù)字萬用表以后，選擇實時記錄功能，設置間隔時間后，即可對測量的數(shù)據進行存儲，并以圖像形式模擬顯示。
以上兩種形式存儲的數(shù)據均可按照Excel格式導入計算機，借助Microsoft Excel軟件進行后期的處理分析。
按照以上原理，如圖1所示連接電路，電容兩極板間電壓為U，放電電阻為R，閉合開關S1較長時間（1分鐘以上），再斷開開關S1接通S2物理論文，放電電流為I,對于此回路電壓方程為
U-IR=0
在放電時有，，將它們代入上式得
將上式積分，并注意到t=0時q=CE，可得
其中τ=RC稱為RC電路的時間常數(shù)，它標志充放電的快慢[2]。
筆者使用標稱電容值為16v，47μF（實測為72.0μF）電解電容，放電電阻為15kΩ，在不同充電電壓下放電測量數(shù)據。數(shù)據經Microsoft Excel軟件插入圖表、添加趨勢線等處理后得圖2、圖3龍源期刊。
時間（s）
電流（μA）
38.5
1
7.5
